Leptoskop 2042 so štandardnou FE sondou DEUTSCH

Hrúbkomer vrstiev Leptoskop®

Vyhotovenie: Všestranný hrúbkomer vrstiev s externým snímačom, presná meracia technika a možnosť rýchleho rozšírenia na mieste prostredníctvom prístupových kódov (softvérové moduly „štatistika“a „Pamäť dát“). Veľký podsvietený grafický displej (48 x 24 mm), veľký výber snímačov. Rozsah merania 0–20000 µm (v závislosti od snímačov), možný výber z 10 jazykov, rozhranie USB-/RS232 a gumový ochranný rám. Čas prevádzky batérií cca 100 hodín. Dodáva sa so sondou na železo do 5000 µm, kontrolným telieskom, súpravou kalibračných fólií, návodom na prevádzku, kolaudačnom protokolom/certifikátom kontroly kvality, meracím protokolom, odbornou literatúrou a 2 batériami Mignon AA/LR06, 1,5 V, v plastovom kufri.

Nepresnosť merania (po kalibrácii):
Hrúbka vrstvy < 100 µm: 1 % nameranej hodnoty ±1 µm
Hrúbka vrstvy > 100 µm: 1 –3 % nameranej hodnoty ±1 µm
Hrúbka vrstvy > 1000 µm: 3 –5 % nameranej hodnoty ±10 µm
Hrúbka vrstvy > 10000 µm: 5 % nameranej hodnoty ±100 µm

Použitie: Detekcia hrúbky nemagnetických vrstiev na magnetizovateľnom základe (Fe, v súlade s DIN EN ISO 2178) a hrúbky nevodivých vrstiev na vodivom základnom materiáli podľa metódy vírivého prúdu (NFe, v súlade s DIN EN ISO 2360).